一、簡(jiǎn)介

美國ASI J200 LA飛秒激光剝蝕進(jìn)樣系統與等離子體質(zhì)譜連用，組成LA-ICP-MS系統，對樣品的元素組成、元素分布進(jìn)行檢測?？膳c市面上的普通四級桿質(zhì)譜儀、飛行時(shí)間質(zhì)譜儀和多接收質(zhì)譜儀等常見(jiàn)質(zhì)譜儀聯(lián)用。

二、技術(shù)優(yōu)勢：

• Q開(kāi)關(guān)，短脈沖Nd:YAG激光器，擁有各種不同波長(cháng)、不同能量的飛秒或納秒激光器，可根據您的實(shí)際應用需求進(jìn)行選購；
• 創(chuàng )新的模塊化系統為獨立的LA，LIBS，或LA–LIBS復合系統的配置設計；
• 系統傳感器，確保激光剝蝕一致性：
  • 高度自動(dòng)調整技術(shù)
  • 激光能量穩定快門(mén)

• 雙攝像機，一個(gè)于高倍成像，另一個(gè)用于樣品表面的廣角觀(guān)察；
• 應用光譜Flex樣品室帶有可互換鑲嵌模塊，以?xún)?yōu)化運輸氣體流量和顆粒沖刷性能；
• 緊湊型微集氣管設計，以消除脫氣和記憶效應；
• 雙路高精度數字質(zhì)量流量控制器和電子控制閥門(mén)；
• 系統軟件：
  • 硬件部件的全面控制與測量自動(dòng)化
  • 多功能取樣方法：全分析、微區&夾雜物分析，深度分析和元素成像
  • 用于LA-ICP-MS和LIBS分析的強大數據分析模塊

• 維護成本低；
• 升級為L(cháng)A-LIBS復合系統簡(jiǎn)單：
  • 用于判別和分類(lèi)分析的LIBS化學(xué)計量軟件
  • 滿(mǎn)足不同分析要求的三種LIBS檢測器選項，LIBS可配置雙檢測器

• 可升級為飛秒激光剝蝕。

三、硬件特點(diǎn)

1、針對雙重LA/LIBS性能而設計的緊湊、模塊化系統

主體包括激光源、激光束傳輸光學(xué)器件、樣品室、氣體流量控制系統。

2、自動(dòng)調整樣品高度，保證激光剝蝕的一致性

考慮到樣品表面的形態(tài)變化，采用自動(dòng)調高傳感器?？杀３志_的激光聚焦，在所有采樣點(diǎn)上提供相同的激光能量，并在所有采樣點(diǎn)上實(shí)現一致的激光剝蝕。

3、具有可互換鑲嵌模塊的Flex樣品室，以?xún)?yōu)化氣流和微粒沖洗性能

根據測量目的(主要成分分析、包裹體分析、高分辨率深度分析、元素成像等)，有必要對樣品室的各個(gè)性能指標進(jìn)行優(yōu)化，指標包括：沖洗時(shí)間、顆?；旌?、樣品室內的流動(dòng)特性。Flex樣品室的設計能夠容納直徑為4英寸的樣品，使用一組可互換的頂部和底部鑲嵌塊來(lái)調節氣流條件（層流和紊流）和微粒沖洗時(shí)間。此外，Flex樣品室的設計是為等離子體光提供一個(gè)好的視角，從而保證在激光剝蝕過(guò)程中進(jìn)行靈敏的LIBS檢測。

4、創(chuàng )新集氣管設計

采用先進(jìn)的集氣管設計，大限度地減少了脫氣，防止了任何燒蝕顆粒的堆積，并消除記憶效應。容易組裝，便于定期清潔輸氣管道。

5、高精度氣體流量控制系統

氣體控制系統使用兩個(gè)高精度、數字化質(zhì)量流量控制器（MFC）和電子控制閥，用于氬氣、氦氣及補充氣體的輸送，并精確控制氣流，防止等離子體火焰熄滅。預設配置可以選擇輸送氬氣、氦氣或補充氣體。

氣體流量控制系統

6、通過(guò)雙攝像頭和先進(jìn)照明實(shí)現樣品可視化

擁有先進(jìn)照明系統和高倍光學(xué)變焦(高達60X)功能，清晰呈現樣品的表面細節。配備雙高分辨率CMOS成像攝像機，提供廣角視野和高倍成像，以精確地研究精細區域(見(jiàn)下圖)。廣角視野視圖可以保存，并用于定位不同的樣品位置，使用高倍鏡研究樣品。

具有三種獨立的照明模式，提高圖像質(zhì)量和對比度：擴散式LED光源，透射光和同軸反射光,光的強度和顏色可控。

清晰、高倍放大的樣品表面圖像

同軸光線(xiàn)不同顏色和強度下的樣本圖像對比

7、三種LIBS檢測器可選，擴展了儀器功能

三種不同LIBS檢測器可選：(1)帶有ICCD攝像機的掃描Czerny Turner光譜儀；(2) 配備ICCD攝像機的中階梯光柵光譜儀；(3)同步六通道CCD光譜儀。做為獨立的LIBS儀器系統，可同時(shí)配備任意兩種檢測器。雙檢測器開(kāi)辟了新的LIBS檢測功能。